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会社概要

社名のBinarixは、Binary(2値)とeXtension(拡張)の造語です。 コンピューターの頭脳であるマイクロプロセッサーの最小単位は 0 または 1 の状態であり、その2種類の数値を組み合わせ拡張することにより、あらゆる処理が可能になります。 バイナリックス株式会社は、2値の拡張で価値あるソフトウェアを創造し、最適なソリューションを提供いたします。

商号バイナリックス株式会社
設立2009年7月17日
所在地 〒114-0012
東京都北区田端新町1-8-14 山貴田端新町ビル3階
TEL 03-5901-9210
FAX 03-5901-9978
資本金1,000万円
役員代表取締役中村博史
取締役金澤英俊
事業内容コンピューターソフトウェアの開発・販売

開発実績

自社製品の開発の他、FA(Factory Automation)関連のソフトウェアを受託開発しております。

ディスク欠陥検査ソフトウェアディスク欠陥検査装置用ソフトウェア。Windows CEをプラットフォームとするデバイス組み込みの欠陥検出ソフトウェアを開発。
液晶CF欠陥修正ソフトウェア液晶カラーフィルターの欠陥を検出し、欠陥の高さ測定、及び研磨を行う装置用ソフトウェア。装置を構成する各種デバイス/センサーの制御、及び画像処理ソフトウェアの開発。
液晶CF欠陥修正データ検索システム液晶パネル製造ラインの検査・修正装置と通信を行い、データを収集し、そのデータを検索するイントラネット及びサーバーの構築とWEBアプリケーションの開発。
液晶滴下量管理システム液晶パネル製造ラインの検査装置及び製造装置と通信を行い、液晶滴下量を管理するイントラネット及びサーバーの構築とWEBアプリケーションの開発。
液晶ガラス基板貼り合わせ検査ソフトウェア画像処理によりカラーフィルターとTFT基板の貼り合わせズレを検査する装置用ソフトウェア。装置を構成する各種デバイスの制御、及び画像処理ソフトウェアの開発。
回路線幅測定ソフトウェア半導体回路の線幅測定装置用ソフトウェア。装置を構成する各種デバイスの制御、及び画像処理ソフトウェアの開発。
レジスト塗布観察ソフトウェアスピンコーターで塗布されるレジスト液の広がりを観察する装置用ソフトウェアの開発。
両面形成回路位置測定ソフトウェアシリコンウェハー両面に形成した回路のズレ量を測定する画像処理ソフトウェアの開発。
物性測定ソフトウェア物性測定装置用ソフトウェア。数値解析によりヤング率(縦弾性係数)を求めるソフトウェアの開発。
膜厚・色度測定ソフトウェア分光光度計で取得したスペクトルを解析して、光学薄膜の厚さ、及び色度を測定するソフトウェアの開発。

プライバシーポリシー

バイナリックス株式会社は、ご提供いただいた個人情報について、以下に従ってお取り扱いいたします。

  • ご提供いただいた個人情報は、個人情報の保護に関する法律に基づき、お問い合わせ/ご契約いただいたお客様へのご連絡、または、あらかじめお知らせした目的にのみ使用いたします。
  • ご提供いただいた個人情報は、漏洩や紛失を防ぐ安全対策を講じ、厳重な管理に努めます。
  • ご提供いただいた個人情報を、ご本人の同意なく第三者に開示または提供いたしません。
  • ご提供いただいた個人情報の修正・削除を希望される場合は、速やかに対応いたします。